片状结构
用来测量什么？
这里被测量的是大多数半结晶聚合物的平均长周期和结晶层的平均厚度。
片晶由堆叠在平行薄片上的非晶相和晶相的规则交替组成。这通常是在中尺度上对半晶聚合物中存在的基本球晶形态的描述。
图1. 是随着尺寸的变化，层状结构中电子密度的自相关的例子。相关函数的分析提供了层状结构长周期和短周期的信息。
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样品
用于此测试的主要样品有：
-
半结晶聚合物
可以在各种原位条件下研究样品。.
方法和标准
用于测定层间距的方法和标准：
- Ref: G.R. Strobl, M.J. Schneider and IG.G. Voigt-Martin, Journal of Polymer Science, 1980, 18, 1361-1381. doi: 10.1002/pol.1980.180180615
XSACT分析软件运用了上述方法。
SAXS的优势
为什么用SAXS来测定层间距呢？
- 通过SAXS您可以直接认识聚合物材料的局部组织结构。
- 它提供了非晶相和晶相的定量解释。
- 通过相关函数分析，给出了由非晶相和晶相组成的层状堆叠的详细描述。
- SAXS无损测试方法。
- SAXS无需样品制备，例如染色。
