小角X射线散射 是一种表征技术，可以研究纳米尺度材料的尺寸和形状。SAXS的主要研究范围是从几个纳米到250nm。通过广角X射线散射技术（WAXS），您可以获取原子尺度样品的晶体结构信息。掠入射小角技术和掠入射广角技术（GI-SAXS/ GI-WAXS）能够帮您分析薄膜的结构或采集表面层结构的信息
利用小角X射线散射技术进行表征
您可以通过小角和广角X射线散射(SAXS和WAXS)进行以下实验
小角X射线散射技术及其相关技术应用于多种研究领域，可研究例如溶液，胶体，粉末或固体等各种形态的样品。
通过下列选项您可以了解到，利用小角X射线散射技术及其相关技术可以进行的实验以及获取的信息。
针对每一个实验都对实验对象进行了解释，并列出了典型的实验例子。针对每一个特定的实验，都有对应的方法和标准以及利用小角X射线散射技术进行实验的优势。
更多关于SAXS的信息
在标准的实验配置中，入射的X射线光束穿过样品，曝光体积大约为1mm3。…… 探测器探测到散射的X射线信号，通过分析散射图像来确定样品的整体结构信息。
在掠入射的实验配置中，X射线光束沿一定角度打在样品上，您可以分析薄膜的结构，或仅从样品层表面收集信息。相关的技术是掠入射SAXS和掠入射WAXS（GI-SAXS/ GI-WAXS），这取决于所探测的结构参数的长度范围。
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