InXight是Xeuss 3.0的可选X射线成像模块，它可以在X射线散射测量和X射线成像之间进行快速自动切换。
这扩展了Xeuss 3.0仪器的测试能力，您能够：
InXight X射线成像模块
- 获取从埃米级到毫米级的样品结构信息
- 通过成像选取目标，研究散射信息
- 利用InXight暗场和相位对比成像（DF-PCI）选配附件揭示纳米结构的差异、界面和取向。
全面认识您的样品
开发聚合物，泡沫，复合材料，生物材料等新应用，不仅需要了解这些材料的结构，还需要评估生产过程和使用条件的影响。结合Xeuss 3.0散射测量，InXight模块通过测量加工材料或异质材料的宏观结构，更有助于理解宏观结构的非均质性和纳米结构甚至原子结构之间的关系。
大面积X射线探测视野以及低至几十微米的分辨率，可更好地选择散射测量的区域。
通过快速切换测量配置，InXight可以在进行原位动态研究时同时采集X射线图像和X射线散射图谱。
可分析聚合物、复合材料、玻璃或无机薄膜等典型样品。
扫描样品结构的取向
在标准X射线成像中，密度相似的异质样品会产生较低的衰减对比度。而配备DF-PCI选配附件的InXight则能提供额外的图像，有助于更好地理解这类样品。
DF-PCI选配附件可以显示出样品的边缘、界面（相位对比图像部分）或者纳米结构的存在（暗场图像部分）。暗场信号的方向展示了样品结构中的各向异性，有助于更好地确定散射实验的最佳位置。
图1左：两束碳纤维和一束尼龙丝的定向暗场成像（InXight DF-PCI）。
右：纤维束A1垂直和A2对角的SAXS图谱，证实了暗场信息。
X射线源在散射和成像之间的自动快速切换
InXight申请专利的测量配置包括一个X射线成像源，该X射线成像源产生一个锥形光束，大范围照射位于Xeuss 3.0样品台上的样品，并将X射线透射图像投射到Q-Xoom探测器上。
X射线光源快速自动切换，可确保在同一样品上连续自动进行X射线散射和X射线成像。
* 专利EP 3 845 892 B1, US 11 796 485，中国，日本申请专利中。
选配了DF-PCI附件的InXight
InXight的暗场和相位对比成像（DF-PCI）选配附件可以调整X射线光束，以获取样品的额外信息。
使用先进的数值算法相关联的光束调制器，InXight DF-PCI可以提供单独的图像：
– 衰减（与样品密度相关），
– 相移（对界面灵敏），
– 暗场（说明纳米结构的存在和取向）。
DF-PCI选配附件完全集成在成像工作流程中。附加的成像模式扩展了InXight在复杂样品上进行成像和散射实验的能力。
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