利用Xeuss 3.0 SAXS/WAXS仪器的InXight暗场和相位对比成像（DF-PCI）选配附件揭示纳米结构的差异、界面和取向信息
InXight X射线成像模块是Xeuss 3.0仪器的一个选配附件，它可以与在X射线散射测量中收集的X射线散射信息相结合，从而提供大尺寸样品的X射线图像。
InXight的暗场和相位对比成像选配附件除了衰减图像（与样品密度相关）外，还提供单独的图像。通过额外的相移图像（对界面灵敏）以及暗场和暗场信号的方向（说明纳米结构的存在和取向），InXight DF-PCI有助于更好地理解低衰减度的样品。附加的成像模式扩展了InXight在复杂样品上进行成像和散射实验的能力，如复合材料，纤维，工程聚合物等。
